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昭和62年度 研究生紹介
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この研究生紹介は、2010年1月22日に追加されたものです。 研究者名や研究テーマは、研究室保管の要旨集及び卒業論文を基に作成しています。 掲載内容に誤りや不足等ございましたら、研究室までご連絡ください |
| 研究者 | 研究テーマ |
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田中 浩一 (研究生) |
二次電子分光測定システムの基礎 |
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赤石 正幸
伊藤 誠 |
オージェ電子分光法によるSi表面の解析 |
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笠原 康秀
木村 恭子 後藤 哲 坂口 宏則 |
光干渉法によるSi表面の酸化膜の厚さ測定 |
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杵淵 直樹
小林 信夫 東条 光伸 |
金をドープしたSiダイオードの電流-電圧特性の測定 |
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木暮 宏史
小林 賢也 高橋 桂三 綿貫 祐史 |
MOS素子のSiとSiO2の界面準位の測定 |
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藤原 紀人
中島 宏 |
二次電子分光測定システムの基礎 |
| 大学院生 |
| 大学生 |
