平成22年度 研究生紹介


研究者 研究テーマ
真田 悠司
(M1)
金属不純物のシリコン熱酸化成長に及ぼす影響と金属原子の挙動
黒田 義将
(研究生)
交流表面光電圧法による多結晶Si薄膜の結晶性評価に関する研究
末永 勝也
(研究生)
高分子薄膜の電気的特性に関する研究
立谷 真
(研究生)
陽極化成Ta2O5薄膜の電気的特性の解析
千葉 隆史

矢田部 祐紀

Au汚染したSi表面における酸化膜成長とAuの挙動に関する研究
萩原 寛幸

加藤 悟

Fe汚染したシリコン表面における酸化膜成長とFeの挙動に関する研究
深澤 和哉

溝井 篤

Cr汚染したSi表面における酸化膜成長とCrの挙動に関する研究


井上 敦広

齋藤 雄大

交流表面光電圧法による多結晶Si薄膜の結晶性評価に関する研究
岡部 敬紀

勝俣 一仁

ω−SPV法によるキャリアライフタイムの評価
武田 政人

千葉 悠喜

走査型トンネル顕微鏡によるSi表面の初期酸化過程の研究
今井 拓也

下村 彰

微細加工プロセスの構築
藤崎 竜也

山浦 卓也

ゾル-ゲル法を用いたZrO2薄膜の作製と評価

鈴木 孝洋

鈴木 喬哉

千葉 巧

陽極化成Nb2O5の電気的特性に関する研究

田中 伸尚

前原 英統

渡邉 裕行

陽極化成Ta2O5薄膜の電気的特性に関する研究
石崎 裕樹

板野 純希

高分子薄膜の電気的特性に関する研究

大学院生
大学生